環境檢驗檢量線製備及查核指引

（四）因各種儀器之特性，其校正之檢量線種類，可為二大類： 1.線性模式（Linear model），又分為直線通過原點校正（Stra i-ght line through the origin ... 目前線上：1986人，瀏覽人次：695999952 會員登入| 加入會員 法規檢索 令函判解 英譯法規 裁判書 書狀例稿 契約範本 植根服務 相關網站 行政令函│司法判解 研討會訊息│植根雜誌 法規資訊 法規名稱： 環境檢驗檢量線製備及查核指引 時間： 中華民國093年10月04日 所有條文 一、目的 提供環境檢驗室執行環境樣品檢測，於進行檢量線製備及檢量線查核 時之依循。

二、適用範圍 （一）本指引適用於環境檢驗室以電極法、比色法（分光光度法）、原 子吸收光譜法、氣相層析法、氣相層析／質譜法、液相層析法、 離子層析法、感應耦合電漿原子發射光譜法、感應耦合電漿質譜 法等執行環境樣品檢測，進行各檢測項目檢量線製備及檢量線查 核。

（二）環境檢驗檢量線製備及查核應依據本署公告之相關檢測方法及本 指引之規定為之。

三、檢量線製備 （一）檢量線製備，係以檢測儀器測定一系列已知濃度標準品之訊號（ 例如：毫伏特、波高、波峰面積、光吸收量、光放出量、質量等 ），求出標準品濃度與訊號之關係，製備成曲線或計算其校正因 子或感應因子。

此項程序應在儀器量測樣品待測物含量之前建立 ，稱為初始校正（Initialcalibration）。

（二）檢量線均由校正最低點與校正最高點之間構成「校正範圍」（Ca l-ibrationrange）。

使用時，不得使用外插法（Extrapolati onmethod），亦即不得在校正範圍外之區域作量測使用，因為 此類所得之數據均不可靠，但可將樣品經稀釋或濃縮，使其含量 在此校正範圍內再量測。

當製備檢量線時，應依個別檢測方法所 規定之步驟，使用適當濃度範圍的標準溶液或標準氣體。

（三）製備檢量線之一般規定： 1.製備檢量線時，應包括至少五種不同濃度的標準溶液或標準氣 體。

2.最低一點標準品的濃度應宜與方法定量極限（約為3倍方法偵 測極限）之濃度相當。

3.其他的濃度則應在偵測器的線性濃度範圍內，或涵括預期的真 實待測樣品濃度，且在偵測器的線性濃度範圍內。

4.通常樣品中待測物之濃度應於檢量線最高濃度之20％至80％間 之濃度為適當。

（四）因各種儀器之特性，其校正之檢量線種類，可為二大類： 1.線性模式（Linearmodel），又分為直線通過原點校正（Stra i-ghtlinethroughtheorigin；y=ax）或直線未通過原點 校正（Linearnotthroughtheorigin；y=ax+b）兩種。

2.非線性模式（Nonlinearmodel），為非直線性校正（Nonline arCalibration；y=ax2+bx+c或更高次方程式關係），又稱為 二次或更高次校正（Secondorderorhigherordercalibra tion）。

依據上述之說明，將實際使用之檢量線製備，分述如下。

（五）線性模式 1.線性迴歸校正法（Linearregression） 此為線性模式，利用統計技術，製備最適直線之檢量線（Best straightcalibrationline），最常用者為最小平方法（L eastsquaresmethod），求得各測定值之最適迴歸線，此校正 公式可使電腦化儀器能直接將濃度數據讀出，同時以校正之最 適公式（Goodnes-of-Fitequation）作為定量之量測。

迴歸線之最適性，以其相關係數（Correlationcoefficient ）r評估，此值介於1和0之間，以1為最大之相關。

原則上 ，上述迴歸線之線性相關係數r應大於或等於0.995（水中真 色色度可為0.990）。

2.校正因子（Calibrationfactor）與感應因子（Responsefac t-or）之校正方法亦即分別為外標準品與內標準品之校正方法 ，不論使用外標準品法或內標準品法，將每一標準品以及真實 待測樣品導入儀器中時，都須使用相同的步驟。

下述為一般校 正規範。

(1)外標準品校正（校正因子校正法） 外標準品校正為利用各校正標準品測得的訊號（As）與各校 正標準品中待測物的量或濃度（Ws）的比值，稱為校正因子 （C-alibrationfactor，CF），其公式如下： As CF＝─ Ws 平均校正因子之公式如下： n ΣCFi __i=1 CF＝──── n 而樣品中待測物濃度之計算，係將測得的樣品中待測物訊號 （尖峰面積或高度）與待測物初始校正得到的平均校正因子 比較而得。

(2)內標準品校正（感應因子校正法） 指利用於樣品注入儀器前，將固定量之內標準品加入於樣品 或樣品萃取液再檢測，則樣品或樣品萃取液中待測物所對應 的尖峰面積或高度（As）與樣品或樣品萃取液中內標準品所 對應的尖峰面積或高度（Ais）之比值，除以每一校正標準 品中待測物的量或濃度（Cs）與其中之內標準品的量或濃度 （Cis）之比值，此比值即為感應因子（Responsefactor, RF），有些方法中另稱為相對感應因子（Relativerespons efactor,RRF）。

其計算公式如下： As/Ais RF＝──── Cs/Cis 平均感應因子之公式如下： n ΣRFi __i=1 RF＝──── n 內標準品法使用的內標準品為：與待測物類似但不太可能出 現在環境樣品中的化合物。

若檢測方法中未建議適當的內標 準品，則檢測員需自行選擇與待測物性質相近，且不會出現 在樣品中的化合物做為內標準品。

不論何種內標準品，分析員皆須驗證內標準品的檢測不會受 方法中的待測物、擬似標準品或基質干擾的影響。

通常，對 非質譜儀偵測器的氣相層析儀和高效能液相層析儀的檢測方 法，內標準品校正較不適用，因在層析分析法中許多內標準 品都無法與待測物完全分離。

內標準品校正在使用質譜儀偵測器時較適用，因內標準品與 待測物在質譜儀上可區分。

(3)校正方法之評估與修改 評估初始校正的線性關係，應先求出各標準品校正因子或感 應因子之相對標準偏差（Relativestandarddeviation,R SD），其公式分別如下： ┌───────── │n__2 │Σ（CFi–CF） │i=1 SD＝│───────── │n–1 │ ┘ SD RSD（％）＝─×100％ CF ┌───────── │n__2 │Σ（RFi–RF） │i=1 或SD＝│───────── │n–1 │ ┘ SD RSD（％）＝─×100％ RF 其中：n：不同濃度校正標準品的數目 除檢測方法另有規定外，若上述求得之相對標準偏差≦20％ ，則校正曲線可假設為通過原點的直線。

在理想狀況，校正 因子或感應因子不會隨導入儀器中的校正標準品之濃度不同 而改變。

但實際上，會有一些改變，故其相對標準偏差在0 -20％之間。

若在校正範圍內的各校正標準品校正因子或感應因子求出的 相對標準偏差大於20％，則不可假設校正曲線為通過原點的 直線。

此時，有下列四種方式可供選擇修改： A.將儀器調整或進行維修保養，直至使校正因子或感應因子 的RSD能符合品質管制規範的小於20％。

B.檢討相對標準偏差大於20％，並非因任何一個校正標準品 的儀器訊號、校正因子或感應因子之結果所造成，如發現 為某一校正標準品所造成，則此一校正標準品應重新檢驗 ，並且重新計算RSD。

C.將校正濃度範圍縮減，使儀器訊號在此縮減範圍內呈現線 性關係，此時應注意最低校正點如造成改變，則方法定量 極限也會跟隨改變。

D.使用不通過原點的線性校正曲線，此時應注意低於校正最 低點之結果不應提出結果報告。

（六）非線性模式 此為非線性校正方法，因為大部分之儀器及分析系統提供使用之 校正範圍均為線性關係，除檢測方法另有規定外，應排除使用二 次或更高次之校正模式。

（七）檢量線製備完成應即以第二來源標準品配製接近檢量線中點濃度 之標準品（若無第二來源標準品時，至少應使用另一獨立配製之 標準品）進行分析作確認，其分析結果應合於四、（四）之規定 範圍。

但使用市售戴奧辛類（含平面狀多氯聯苯）標準品，且濃 度經原廠確認，直接導入儀器製備檢量線者，不在此限。

（八）檢量線相關紀錄必須註明製備日期、檢測項目、標準品來源、標 準品濃度、配製流程及儀器感應訊號值等資料。

四、檢量線查核 除檢測方法另有查核規定外，應依下列規定執行檢量線查核： （一）初始校正時所建立之檢量線，必須作週期性之查核，其分析結果 介於可接受範圍時才可持續性地使用該檢量線。

檢量線查核必須 於以每批次或每十二小時為週期之樣品分析工作前執行之。

（二）若分析當日製備檢量線，且樣品量超過一批次或樣品分析時間超 過十二小時者，應自第二批次或第十二小時起，於每批次或每十 二小時為週期之樣品分析前執行檢量線之查核。

（三）完成樣品分析後應再執行檢量線之查核。

（四）檢量線查核標準品（使用濃度可約為檢量線之中點濃度）分析結 果之可接受範圍如下： 1.檢測方法有規定時，應依該方法規定之相對誤差值判定之。

2.電極法之相對誤差值宜在±15％以內。

3.比色法（分光光度法）之相對誤差值宜在±15％以內。

4.氣相層析法之相對誤差值宜在±15％以內。

5.氣相層析／質譜法之相對誤差值宜在±20％以內。

6.液相層析法之相對誤差值宜在±15％以內。

7.離子層析法之相對誤差值宜在±15％以內。

8.火焰式原子吸收光譜法之相對誤差值宜在±10％以內。

9.汞冷蒸氣原子吸收光譜法與砷化氫原子吸收光譜法之相對誤差 值宜在±20％以內。

10.石墨爐式原子吸收光譜法之相對誤差值宜在±10％以內。

11.感應耦合電漿原子發射光譜法之相對誤差值宜在±10％以內。

12.感應耦合電漿質譜法之相對誤差值宜在±10％以內。

相對誤差值計算如下： 計算所得濃度－配製濃度 相對誤差值（％）＝───────────×100％ 配製濃度 如為校正因子或感應因子的確認時，將上式之濃度使用校正因子 或感應因子替換，而得如下： __ CF–CF 相對誤差值（％）＝───×100％ CF __ RF–RF 或＝───×100％ RF （五）待測物的訊號（或計算所得的濃度）與初始校正的訊號間的偏差 大於上述範圍時，初始校正可能已無效。

發生此種情況時，立即 檢查儀器的操作條件及／或進行儀器的維護保養，並取另一份校 正查核標準品或檢量線查核標準品注入儀器分析之，若待測物的 訊號，仍無法落在上述範圍以內，則須重新製備檢量線。

五、參考資料 （一）Roy-KeithSmith,HandbookofEnvironmentalAnalysis,pp 138-155,4thedition,GeniumPublishingCorporation,S che-nectadyNY,USA,1999. （二）U.S.EPATestMethodsforEvaluatingSolidWastePhysica l/ChemicalMethods,SW-846.Method8000BDeterminati veChromatographicSeparations,December1996. （三）U.S.EnvironmentalProtectionAgency,GuidetoMethodFl e-xibilityandApprovalofEPAWaterMethods,Chapter3: Qu-alityControlRequirements,WashingtonDC,December 1996. RSS服務訂閱說明|合作提案|隱私權聲明|著作權聲明|常見問題 106臺北市信義路三段162-12號玫瑰大樓3樓電話：02-2707-2848傳真：02-2708-4428 COPYRIGHT(C)2000-2003ROOTLAWALLRIGHTSRESERVED.MAILTOWEBMASTER.