使用數位顯微鏡觀察、量測BGA(錫球) | 電子元件產業
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介紹使用數位顯微鏡觀察案例較多的BGA(錫球)的觀察和量測案例。
KEYENCE“顯微鏡「放大觀察‧分析‧量測」應用”,於各個業界及領域中,“改變”用以往的顯微鏡觀察、分析、 ...
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顯微鏡「放大觀察‧分析‧量測」應用
電子元件產業
使用數位顯微鏡觀察、量測BGA(錫球)
隨著第五代行動通訊系統(5G)的普及,半導體元件的尺寸更加縮小、積體規模更加擴大,對產品的檢查分析的需求不斷高漲。
在此介紹使用數位顯微鏡觀察案例較多的BGA(錫球)的觀察和量測案例。
IC封裝的代表種類
IC晶片黏著的代表性接合方法
覆晶接合的球柵陣列形成方法的種類
用數位顯微鏡觀察和量測BGA(錫球)的案例
IC封裝的代表種類
隨著IC集成度的提升,表面黏著型成為了主流。
另外,高集成度的IC使用矩陣型(BGA型)封裝。
代表性的IC封裝種類如下所示。
表面黏著型:無引線封裝
SON(SmallOutlineNon-leadedpackage)
一種表面黏著封裝方法,沒有接腳,而用電極墊來著為連接用端子。
SON是2方向型、適合引腳數少的封裝。
QFN(QuadFlatNon-leadedpackage)
一種表面黏著封裝方法,沒有接腳,而用電極墊來著為連接用端子。
QFN為4方向型封裝。
表面黏著型:矩陣型封裝
BGA(BallGridArray)
在封裝的底面上以陣列狀排布球形的焊錫珠作為端子。
PGA(PinGridArray)
在封裝的底面上以陣列狀排布引腳作為端子。
LGA(LandGridArray)
在封裝的底面上以陣列狀排布銅等電極墊作為端子。
IC晶片黏著的代表性接合方法
打線接合
一種用金、鋁、銅等細絲對半導體晶片的電極部和導線架、印刷電路板上的導體之間進行連接的方法。
覆晶接合
一種將IC晶片直接連接至印刷電路板的方法,稱為FC-BGA(FlipChip-BGA)。
IC晶片的電極部分形成球柵陣列,與印刷電路板側的電極連接。
與打線接合相比,可節省空間。
左:IC晶片
右:倒裝(正面朝下)
覆晶接合的球柵陣列形成方法的種類
焊錫珠搭載法
將預先成形為球狀的焊錫珠搭載到電極上,透過回流焊形成球柵陣列。
相較於錫膏印刷法,可以將球柵陣列做得更高,透過對焊錫珠尺寸進行恆定管理,可以控制球柵陣列的高度偏差。
錫膏印刷法
將錫膏印刷到電極上,透過回流焊形成球柵陣列。
產量高,但高度偏差的控制困難。
電鍍法
透過電解電鍍形成球柵陣列。
可以形成細微的球柵陣列,但產量低。
用數位顯微鏡觀察和量測BGA(錫球)的案例
以下介紹使用KEYENCE的4K數位顯微鏡「VHX系列」進行的BGA(錫球)的觀察和量測影像的最新案例。
BGA的錫球的傾斜觀察
100×環狀照明
可以傾斜觀察,能夠從印刷電路板的間隙觀察BGA球柵。
BGA的錫球的3D量測
300×混合照明(消除光暈影像)
使用混合照明和消除光暈功能,可以在無光暈狀態下觀察。
BGA的錫球的橫截面觀察
300×同軸落射照明
錫球的3D觀察
2000×同軸落射照明
錫球的3D量測
300×同軸落射照明
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